D. Hubert, J.-C. Lambert, T. Verhoelst, J. Granville, A. Keppens, J.-L. Baray, U. Cortesi, D. A. Degenstein, L. Froidevaux, S. Godin-Beekmann, K. W. Hoppel, E. Kyrölä, T. Leblanc, G. Lichtenberg, C. T. McElroy, D. Murtagh, H. Nakane, R. Querel, J. M. Russell, III, J. Salvador, H. G. J. Smit, K. Stebel, W. Steinbrecht, K. B. Strawbridge, R. Stübi, D. P. J. Swart, G. Taha, A. M. Thompson, J. Urban, J. A. E. van Gijsel, P. von der Gathen, K. A. Walker, E. Wolfram, J. M. Zawodny
Atmos Meas Tech.
Author manuscript; available in PMC 2018 May 7.Published in final edited form as: Atmos Meas Tech. 2016; 9(6): 2497–2534. Published online 2016 Jun 8. doi: 10.5194/amtd-8-6661-2015